1. Одночасне визначення Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu та інших елементів у геологічних зразках; також може бути використане для виявлення слідів дорогоцінних металів у геологічних зразках (після розділення та збагачення);
2. Визначення від кількох до десятків домішкових елементів у високочистих металах та високочистих оксидах, порошкоподібних зразках, таких як вольфрам, молібден, кобальт, нікель, телур, вісмут, індій, тантал, ніобій тощо;
3. Аналіз мікроелементів та мікроелементів у нерозчинних порошкоподібних зразках, таких як кераміка, скло, вугільна зола тощо.
Одна з незамінних допоміжних програм аналізу зразків геохімічної розвідки
Ідеально підходить для виявлення домішкових компонентів у високочистих речовинах
Ефективна система оптичного зображення
Оптична система Еберта-Фастика та трилінзовий оптичний шлях використовуються для ефективного видалення розсіяного світла, усунення гало та хроматичної аберації, зменшення фону, покращення здатності збирати світло, гарної роздільної здатності, рівномірної якості спектральної лінії та повного успадкування оптичного шляху однометрового дифракціонального спектрографа. Переваги.
Джерело світла для збудження дуги змінного та постійного струму
Зручно перемикатися між дугами змінного та постійного струму. Залежно від різних зразків, що тестуються, вибір відповідного режиму збудження корисний для покращення аналізу та результатів випробувань. Для непровідних зразків виберіть режим змінного струму, а для провідних зразків – режим постійного струму.
Верхній та нижній електроди автоматично переміщуються у визначене положення відповідно до налаштувань параметрів програмного забезпечення, а після завершення збудження електроди знімаються та замінюються, що просте в експлуатації та має високу точність вирівнювання.
Запатентована технологія проекції зображень електродів відображає весь процес збудження у вікні спостереження перед приладом, що зручно для користувачів для спостереження за збудженням зразка в камері збудження та допомагає зрозуміти властивості та поведінку зразка під час збудження.
| Форма оптичного шляху | Вертикально симетричний тип Еберта-Фастіка | Поточний діапазон | 2~20A (змінний струм) 2~15A (постійний струм) |
| Плоскі лінії решітки | 2400 штук/мм | Джерело світла збудження | Дуга змінного/постійного струму |
| Фокусна відстань оптичного шляху | 600 мм | Вага | Близько 180 кг |
| Теоретичний спектр | 0,003 нм (300 нм) | Розміри (мм) | 1500 (Д) × 820 (Ш) × 650 (В) |
| Роздільна здатність | 0,64 нм/мм (перший клас) | Постійна температура спектроскопічної камери | 35°C ± 0,1°C |
| Коефіцієнт дисперсії спадаючої лінії | Синхронна високошвидкісна система збору даних на основі технології FPGA для високопродуктивного CMOS-сенсора | Умови навколишнього середовища | Кімнатна температура 15°C~30°C Відносна вологість <80% |